[Smart]
UNKNOWN=未知项目
VENDOR_SPECIFIC=厂商特定项目
01=读取错误率
02=吞吐性能
03=起转时间
04=启动-停止次数
05=重新分配扇区计数
06=读取通道余量
07=寻道错误率
08=寻道时间性能
09=通电时间
0A=起转重试次数
0B=重新校准重试次数
0C=启动-关闭循环次数
0D=软读取错误率探针
B8=端到端错误
BB=报告的无法修正错误
BC=命令超时
BD=磁头非正常高度写入
BE=气流温度
BF=加速度感应错误率
C0=断电磁头缩回计数
C1=磁头加载/卸载循环计数
C2=温度
C3=硬件 ECC 已修复错误计数
C4=重新分配扇区物理位置事件计数(与坏道有关)
C5=当前等待中扇区数(状态存疑/不稳定-等待后续判断)
C6=无法修正的扇区总数
C7=UltraDMA CRC 错误计数(与接口/线材质量有关)
C8=写入错误率
C9=软读取错误率
CA=数据地址标记错误
CB=ECC 错误率
CC=软 ECC 校正
CD=热骚动率(极端高温导致的错误)
CE=磁头飞行高度
CF=起转最大电流
D0=起转蜂鸣/起转阶梯(欠压启动时马达加速的流程数)
D1=离线寻道性能
D3=写入时的振动(振荡)
D4=写入时的震动(冲击)
DC=盘片位移
DD=加速度感应错误率
DE=负载小时数(磁头架移动中的时间)
DF=加载/卸载重试计数
E0=加载摩擦
E1=加载/卸载循环计数
E2=加载的时间(磁头架在工作位置的时间)
E3=扭矩放大计数
E4=断电磁头缩回计数
E6=巨磁阻磁头振幅
E7=温度
F0=磁头飞行小时数
FA=读取错误重试率
FE=自由落体保护

# Updated 5.4.0
F1=主机写入量总计
F2=主机读取量总计

[SmartSsd]
01=读取错误率
02=吞吐性能
03=启动时间
04=启动-停止次数
05=重新分配扇区计数
06=读取通道余量
07=寻址错误率
08=寻址时间性能
09=通电时间
0A=启动重试次数
0B=重新校准重试次数
0C=启动-关闭循环次数
0D=软读取错误率探针
C0=不安全关机计数
C2=温度
C4=重新分配扇区物理位置事件计数
C5=当前等待中扇区数(状态存疑/不稳定-等待后续判断)
C6=无法修正的扇区总数
# CrystalDiskInfo assign
FF=剩余寿命

# Updated 5.4.0
F1=主机写入量总计
F2=主机读取量总计

[SmartMtron]
BB=擦除次数总计

[SmartIndlinx]
01=读取错误率
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
B8=出厂坏块计数
C2=温度
C3=编程失败块数
C4=擦除失败块数
C5=读取失败块数
C6=读取扇区数总计
C7=写入扇区数总计
C8=读取命令数总计
C9=写入命令数总计
CA=来自闪存的错误位元数总计
CB=读取含可修正位元错误的扇区数总计
CC=坏块满标志
CD=最大 P/E 次数规格
CE=最小擦除次数
CF=最大擦除次数
D0=平均擦除次数
D1=剩余使用寿命

[SmartJMicron60x]
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
C2=温度
E5=中止系统 ID，闪存 ID
E8=固件版本信息
E9=ECC 失败记录
EA=平均擦除次数，最大擦除次数
EB=良好块计数，系统块计数

[SmartIntel]
03=启动时间
04=启动-停止次数
05=重新分配扇区计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
C0=不安全关闭计数
E1=主机写入
E8=可用保留空间
E9=介质磨损指示器
B8=端到端错误检测计数

# Updated 4.1.0
AA=可用保留空间
AB=编程失败计数
AC=擦除失败计数
BB=无法校正错误计数

# Updated 4.3.0
AE=意外断电
E2=单次工作介质磨损
E3=单次工作主机读写中“读操作”占的比率
E4=单次工作计时器
F1=LBA(逻辑区块地址)写入量总计
F2=LBA(逻辑区块地址)读取量总计
F9=NAND 写入量总计

# Updated 5.5.0
B7=SATA 性能降级计数
BE=温度
C7=CRC 错误计数

# Updated 5.6.1
AF=掉电保护失败
C2=温度
C5=当前等待中扇区数(状态存疑/不稳定-等待后续判断)

# Added 6.6.0
EA=Thermal Throttle Status

[SmartSamsung]
05=重新分配扇区计数
09=通电时间
0C=通电次数
AF=编程失败计数(芯片)
B0=擦除失败计数(芯片)
B1=闪存磨损平均计数
B2=已使用的保留块计数(芯片)
B3=已使用的保留块计数(总计)
B4=未使用的保留块计数(总计)
B5=编程失败计数(总计)
B6=擦除失败计数(总计)
B7=运行中的坏块(总计)
BB=无法校正错误计数
BE=气流温度
C2=温度
C3=ECC 错误率
C6=离线无法校正错误计数
C7=CRC 错误计数
C9=超级电容状态
CA=SSD 模式状态
EB=电源恢复计数(意外断电的次数)
F1=LBA(逻辑区块地址)写入量总计
F2=LBA(逻辑区块地址)读取量总计

# Added 6.6
AA=未使用保留块计数(芯片)
AB=编程失败计数(芯片)
AC=擦除失败计数(芯片)
AD=闪存磨损平均计数
AE=意外断电计数
B8=错误检测
E9=标准化后的介质磨损

# Updated 3.7.0
[SmartSandForce]
01=原始读取错误率
05=已隔离老化块计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
0D=软读取错误率
64=已擦除 GB 数
AA=保留块计数
AB=编程失败计数
AC=擦除失败计数
AE=意外断电计数
B1=磨损范围增量(磨损最严重块与磨损最轻块的磨损差异百分比)
B5=编程失败计数
B6=擦除失败计数
B8=已报告的 I/O 检错码错误
BB=已报告的无法校正错误
C2=温度
C3=自适应 ECC 无法校正错误计数
C4=重新分配扇区物理位置事件计数
C6=无法校正扇区计数
C7=SATA 除错(CRC)错误计数
C9=无法校正的软读取错误率
CC=软 ECC 校正率
E6=寿命曲线状态
E7=SSD 剩余寿命
E8=可用保留空间
EB=超级电容健康状态
F1=全周期主机写入量总计
F2=全周期主机读取量总计

# Added 3.9.0
[SmartJMicron61x]
01=读取错误率
02=吞吐性能
03=启动时间
05=重新分配扇区计数
07=寻址错误率
08=寻址时间性能
09=通电时间
0A=启动重试次数
0C=启动-关闭循环次数
A8=SATA 物理层错误计数
AF=坏簇表计数(ECC 失败计数)
C0=意外断电次数
C2=温度
C5=当前等待中扇区数(状态存疑/不稳定-等待后续判断)
AA=坏块计数
AD=擦除计数

# Added 4.0.0/ Updated 6.1.0
[SmartMicron]
#  RAIN = Redundant Array of Independent NAND (独立 NAND 冗余阵列)
01=底层读取错误率
05=重新分配扇区计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
0D=软错误率
0E=设备容量(NAND)
0F=用户可用容量
10=可用备用块
11=剩余的备用块
64=擦除次数总计
AA=保留块计数
AB=编程失败计数
AC=擦除失败计数
AD=平均块擦除计数
AE=意外断电计数
B4=未使用的 NAND 保留块
B5=未对齐访问计数
B7=SATA 接口性能降级
B8=错误校正计数
BB=报告的无法校正错误
BC=命令超时计数
BD=出厂坏块计数
C2=温度
C3=ECC 位元校正累计 
C4=重新分配扇区物理位置事件计数
C5=当前等待中扇区数(状态存疑/不稳定-等待后续判断)
C6=智能离线扫描无法校正的错误计数
C7=Ultra DMA CRC 错误率
CA=已使用寿命百分比
CE=写入错误率
D2=RAIN(独立 NAND 冗余阵列)成功恢复计数
EA=读取字节数总计
F2=距离“禁止写入模式”的剩余备用块数
F3=ECC 已校正的位元数
F4=ECC 临界事件数累计(错误率达到/超过ECC校正能力极限的次数)
F5=累计编程 NAND 页数
F6=主机扇区写入总计
F7=主机编程页数
F8=FTL(闪存转换层)编程页数

# Updated 6.6.0
[SmartMicronMU02]
#  RAIN = Redundant Array of Independent NAND
01=Raw Read Error Rate
05=Reallocated Sectors Count
09=Power-On Hours
0C=Power Cycle Count
0D=Soft Error Rate
0E=Device Capacity (NAND)
0F=User Capacity
10=Spare Blocks Available
11=Remaining Spare Blocks
64=Total Erase Count
AA=Reserved Block Count
AB=Program Fail Count
AC=Erase Fail Count
AD=Average Block-Erase Count
AE=Unexpected Power Loss Count
B4=Unused Reserve NAND Blocks
B7=SATA Interface Downshift
B8=Error Correction Count
BB=Reported Uncorrectable Errors
BC=Command Timeout Count
BD=Factory Bad Block Count
C2=Temperature
C3=Cumulative ECC Bit Correction Count
C4=Reallocation Event Count
C5=Current Pending Sector Count
C6=Smart Off-line Scan Uncorrectable Error Count
C7=Ultra DMA CRC Error Rate
CA=Percent Lifetime Used
CE=Write Error Rate
D2=Successful RAIN Recovery Count
EA=Total Bytes Read
F3=ECC Bits Corrected
F4=ECC Cumulative Threshold Events
F5=Cumulative Program NAND Pages
F6=Total Host Sector Writes
F7=Host Program Page Count
F8=Background Program Page Count

#  Updated 6.6.0
A0=Uncorrectable Sector Count
A1=Valid Spare Blocks
A3=Initial Invalid Blocks
94=Total SLC Erase Count
95=Maximum SLC Erase Count
96=Minimum SLC Erase Count
97=Average SLC Erase Count
A4=Total TLC Erase Count
A5=Maximum TLC Erase Count
A6=Minimum TLC Erase Count
A7=Average TLC Erase Count
A9=Percentage Lifetime Remaining
B5=Program Fail Count
B6=Erase Fail Count
C0=Power-off Retract Count
E8=Available Reserved Space
F1=Total LBA Write
F2=Total LBA Read
F5=Total TLC Write Count
F6=Total SLC Write Count
F7=RAID Recovery Count

# Added 4.5.0
[SmartOcz]
01=原始读取错误率
03=启动时间
04=启动-停止次数
05=重新分配扇区计数
09=通电小时
0C=启动-关闭循环次数
C2=温度
E8=写入扇区数总计
E9=剩余寿命

#  Added 6.6.0
64=Total Blocks Erased
A7=SSD Protect Mode
A8=SATA PHY Error Count
A9=Bad Block Count
AD=Erase Count
B8=Factory Bad Block Count
C0=Unexpected Power Loss Count
CA=Total Number of Corrected Bits
CD=Max Rated PE Counts
CE=Minimum Erase Counts
CF=Maximum Erase Counts
D3=SATA Uncorrectable Error Count
D4=NAND Page Reads During Retry
D5=Simple Read Retry Attempts
D6=Adaptive Read Retry Attempts
DD=Internal Data Path Uncorrectable Errors
DE=RAID Recovery Count
E6=Power Loss Protection
FB=NAND Read Count

# Updated 6.7.0
F1=Total Host Writes
F2=Total Host Reads

# Added 5.1.0
[SmartPlextor]
01=读取错误率
05=重新分配扇区计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
C0=不安全关机次数
C2=温度
C4=重新分配扇区物理位置事件计数
C6=不可校正扇区计数
F1=主机写入量总计
F2=主机读取量总计

# Updated 5.4.0
B1=闪存磨损平均计数
B2=已使用保留区块计数(最坏情况)
B5=编程失败计数(总计)
B6=擦除失败计数(总计)
BB=无法校正错误计数
C7=Ultra DMA CRC 错误计数
E8=可用保留空间

# Added 6.2.0
AA=新增坏块
AB=编程失败计数(总计)
AC=擦除失败计数(总计)
AD=平均编程/擦除(P/E)计数(总计)
AE=意外断电计数
AF=编程失败计数(最坏情况)
B0=擦除失败计数(最坏情况)
B3=已使用保留块计数(总计)
B4=未使用保留块计数(总计)
B7=SATA 界面性能降级
B8=已校正的端到端数据错误
BC=命令超时
C3=纠错码(ECC) 等级
E9=写入 NAND 的 GB 数

# Added 5.2.0
[SmartSanDisk]
05=已隔离的老化块计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
AA=保留块计数
AB=编程失败计数
AC=擦除失败计数
AE=意外断电计数
BB=报告的无法校正错误
C2=温度
E8=剩余寿命
F1=主机写入量总计
F2=主机读取量总计

# Added 5.3.0
[SmartOczVector]
05=运行中坏块累计
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
AB=可用冗余块计数
AE=启动-关闭循环次数(意外)
BB=NAND 无法校正读取总计
C2=温度
C3=编程失败总计
C4=擦除失败总计
C5=读取失败总计(无法校正)
C6=主控读取
C7=主控写入
D0=擦除计数平均值
D2=SATA CRC 错误计数
E9=剩余寿命
F9=NAND 编程次数总计

# Updated 5.5.0
F1=主机写入量总计
F2=主机读取量总计

# Updated 6.6.0
64=Total Blocks Erased
B8=Factory Bad Block Count Total
CA=Total Number Of Read Bits Corrected
CD=Max Rated PE Count
CE=Min Erase Count
CF=Max Erase Count
D4=Total Count NAND Pages Reads Requiring Read Retry
D5=Total Count of Simple Read Retry Attempts
D6=Total Count of Adaptive Read Retry Attempts
DD=Internal Data Path Protection Uncorrectable Errors
DE=RAID Recovery Count
E0=In Warranty
E1=DAS Polarity
E2=Partial Pfail
E6=Write Throttling Activation Flag
F9=Total NAND Programming Count (pages)
FB=Total NAND Read Count

# Added 6.2.0
[SmartCorsair] 
01=原始读取错误率
05=已隔离的老化块计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
AA=保留块计数
AC=擦除失败计数
AE=意外断电计数
B5=编程失败计数
BB=报告的无法校正错误
C2=温度
C4=重新分配扇区物理位置事件计数
E7=固态硬盘剩余寿命
F1=全周期写入量(GB 数)
F2=全周期读取量(GB 数)

# Added 6.2.0
[SmartToshiba] 
01=读取错误率
02=吞吐性能
03=启动时间
04=启动-停止次数
05=重新分配扇区计数
07=寻道错误率
08=寻道时间性能
09=通电小时数
0A=启动重试次数
0B=重新校准重试次数
0C=启动-关闭循环次数
A7=固态硬盘保护模式
A8=SATA 物理层错误计数
A9=坏块数总计
AD=擦除计数
C0=意外断电计数
C2=温度
C4=重新分配扇区物理位置事件计数(与坏块有关)
C5=当前等待中扇区数(状态存疑/不稳定-等待后续判断)
C6=无法修正的扇区总数
F1=主机写入量总计
F2=主机读取量总计

# Added 6.2.0
[SmartSanDiskGb]
05=重新分配块计数
09=通电时间
0C=启动-关闭循环次数
A6=最小写入/擦除循环数
A7=裸片中最大坏块数
A8=最大擦除循环
A9=坏块总计
AB=编程失败计数
AC=擦除失败计数
AD=平均擦除循环
AE=意外断电计数
BB=报告的无法校正错误
C2=温度
D4=SATA 物理层错误计数
E6=编程/擦除(P/E)总计 (百分比)
E8=剩余备用块
E9=对 NAND 写入量总计(GB 数)
F1=写入量总计(GB 数)
F2=读取量总计(GB 数)

# Added 6.6.0
[SmartKingston]
01=Read Error Rate
02=Throughput Performance
03=Spin Up Time
05=Reallocated Sectors Count
07=Seek Error Rate
08=Seek Time Performance
09=Power-On Hours
0A=Spin Retry Count
0C=Power Cycle Count
A8=SATA PHY Error Count
AA=Bad Block Count
AD=Erase count
AF=Bad Cluster Table Count
BB=Uncorrectable Errors
C0=Unsafe Shutdown Count
C2=Temperature
C4=Later Bad Block Count
C5=Current Pending Sector Count
C7=CRC Error Count
DA=CRC Error Count
E7=SSD Life Left
E9=Lifetime Writes to Flash
F0=Write Head
F1=Host Writes
F2=Host Reads
F4=Average Erase Count
F5=Max Erase Count
F6=Total Erase Count

# Added 6.7.0
[SmartNVMe]
01=Critical Warning
02=Composite Temperature
03=Available Spare
04=Available Spare Threshold
05=Percentage Used
06=Data Units Read
07=Data Units Written
08=Host Read Commands
09=Host Write Commands
0A=Controller Busy Time
0B=Power Cycles
0C=Power On Hours
0D=Unsafe Shutdowns
0E=Media and Data Integrity Errors
0F=Number of Error Information Log Entries